Beschreibung
Wafer Semiconductor Inspection Lamp SLEX-GN-H127-SFN-DN
Optische Wafer Inspektion speziell entwickelt für Qualitätssicherung und Prüfung von Wafern
auch Integration der Systeme in bestehende Reaktoren Wafer Oberflächen Inspektion zur Erhöhung des ROI.
Entscheiden Sie sich für eine robuste, wartungsarme Gelblichtlampe für die optische Wafer Inspektion
mit umfassender Prozesssicherheit durch extrem starke Anzeigen
und enormer Energieersparnis im Vergleich zu 100 Watt-Quecksilber Entladungsbirnen.
Warum gefilterte SLEX-Lampen von SECU-CHEK für die Wafer Oberflächen Inspektion einsetzen?
Die Lampe gewährleistet eine hohe Prozesssicherheit, sowie einen wirtschaftlich effizienten und störungsfreien Prüfbetrieb.
Des Weiteren ist eine solide Wafer-Prüfung entscheidend für die weiteren kostenintensiven Schritte der Waferaufbereitung und Chipherstellung.
Daher ist eine professionelle Lösung nach Industrie-Standard erforderlich.
Welche Fehler bei der Waferproduktion gibt es und wie gut sind diese mit der SECU-CHEK Grünlichtlampe erkennbar?
Mit der Slex-Serie sind so gut wie alle Fehler schnell sichtbar. Hier unterscheiden wir zwischen Einschlüssen, generellen Verunreinigungen,
Wachstumsstörungen, Schleier oder Streifen. Mit unseren Lampen erkennen Sie problemlos Mikrostrukturen, Wachstumslöcher , Randabflachungen
oder Randstörungen sowie Strukturverschiebungen.
