Wafer Inspektion: gelbes LED-Leuchtensystem für hochqualitative Wafer Prüfung

Gelbe Wafer Halbleiter Inspektionslampen von SECU-CHEK
(Wafer Semicondutor Inspection Lamps SLEX-GB-H127-SFN-DNF)

Optische Wafer Inspektion speziell entwickelt für Qualitätssicherung und Prüfung von Wafern
auch Integration der Systeme in bestehende Reaktoren
Wafer Oberflächen Inspektion zur Erhöhung des ROI

Wafer Inspektion mit Gelblichlampen / Wafer Oberflächeninspektion mit Grünlichtlampen

  • Wafer Inspektion mit High-Tec Gelblichtlampe ohne UV-Strahlung
  • Ersatz für UV-Lampen zur Inspektion von Wafern
  • Prüfung von Wafern ohne Einsatz von Quecksilberdampflampen
  • Ausführung als gefilterte Grünlichtlampe oder als gefilterte Gelblichtlampe für die Waferinspektion
  • Wafer Oberflächen-Inspektion mit SECU-CHEK Wafer-Prüfungslampen ohne UV und ohne Quecksilber

Entscheiden Sie sich für eine robuste, wartungsarme Gelblichtlampe für die optische Wafer Inspektion
mit umfassender Prozesssicherheit durch extrem starke Anzeigen
und enormer Energieersparnis im Vergleich zu 100 Watt-Quecksilber Entladungsbirnen

Warum gefilterte Gelblichtlampen von SECU-CHEK für die Wafer Oberflächen Inspektion einsetzen?

  • hohe Prozesssicherheit bei der Wafer Herstellung notwendig
  • wirtschaftlich effizienter und störungsfreier Prüfbetrieb gewünscht
  • eine solide Wafer-Prüfung ist entscheidend für die weiteren kostenintensiven Schritte der Waferaufbereitung und Chipherstellung
  • professionelle Lösung nach Industrie-Standard erforderlich

Jetzt Preis anfragen für die Wafer Semicondutor Inspection Lamp SLEX-GB-H127-SFN-DNF von SECU-CHEK!

Beratung gewünscht?

Tel. +49 6805-942859-0 / Email: info@secu-chek.de

  • Beratung durch erfahrene Experten
  • individuell auf Ihre Anforderungen zugeschnittene Lösungen
  • Preisvorteil durch Direktvertrieb
  • Qualität Made in Germany

Welche Fehler bei der Waferproduktion gibt es und wie gut sind diese mit der SECU-CHEK Gelblichtlampe erkennbar?

  • Störungen mit der gefilterten Gelblichtlampe gut aufspürbar
  • Einschlüsse mit der Wafer Prüfung erkennen
  • Verunreinigungen durch visuelle Waferprüfung detektieren
  • Wachstumsstörungen mit gelb-grün Licht sehen
  • Schleier identifizieren beim optischen Wafertest
  • Streifen analysieren mit der Wafer-Inspektionslampe von SECU-CHEK
  • Mikrostrukturen besser erkennen im Vergleich zu UV-Lampen und Quecksilberlampen für Wafer Prüfung
  • Wachstumslöcher mit der Wafer Inspektion detektieren
  • Randabflachungen mit hohem Kontrast der Gelb-Grün-Lampe prüfen
  • Randstörungen finden bei der optischen Wafer Inspektion
  • Strukturverschiebungen mit der Qualitätsprüfer-Lampe beim Wafer erkennen
  • Einschlüsse bei der Waferproduktion erkennen mit UV-Gelblicht und Grünlicht-Lampen
  • Unebenheiten mit der gefilterten Gelblicht-Leuchte idenditifzieren
  • eingeschränkte Klarheit durch die hochqualitative Wafer-Inspektion erkennen

Häufige Fragen bei der visuellen Inspektion von Wafern mit Gelblichtlampen

  • Welche Ausleuchtung und Intensität benötige ich für zuverlässige Prüfergebnisse bei der Wafer Inspektion?
  • Wo/Wie erfolgt die Integration der Lampen zur Oberflächenprüfung der Wafer um effiziente Arbeitsabläufe zu ermöglichen?
  • Welche Befestigungsmöglichkeiten und Freiräume gibt es für die Gelblichtlampe im Laborbereich?
  • Entsprechen die Abläufe und Sicherheitsmechanismen der Gelblichtlampe bzw. Grünlichtlampe den Anforderungen, die wir erfüllen müssen?
  • Wer kümmert sich um die Einweisung zur Fehler-Detektion bei der Wafer Prüfung?
  • Welche Wartungs- und Reparaturkosten muss ich bei der UV-Lampe für Waferprüfung einplanen?

Die Gelblichtlampen und Grünlichtlampen von SECU-CHEK mit der speziellen LED Technologie ermöglichen Ihnen eine perfekt auf Ihre Prüfsituation angepasste Lösung zu bieten. Fordern Sie noch heute eine Gelblichtlampe zum Testen Ihrer Wafer an!

Wafer Inspektion Technologie für Chipherstellung und Solar Fabrikation

Manuelle Wafer Prüfung mit High-Tech Gelblichtlampen

  • starke, extrem gleichmäßige, schattenarme Ausleuchtung in der benötigten Intensität
  • viele Vorteile gegenüber automatisierter Wafer Inspektion – reduzieren Sie den Ausschuss
  • optimal für visuelle Nachkontrolle von aussortierten Wafern bei der automatischen Wafer Inspektion
  • Auswertung und Prüfung aller Arten von Wafern bei der Waferherstellung

 

Händische optische Wafer Prüfung

  • einfache Integration der visuellen Inspektion in den Wafer-Herstellungsprozess
  • alle Arten von Wafern in der Photovoltaik sowie Silizium Wafer uvm. mehr
  • hohe Flexibilität bei der Wafer Inspektion mit hoher Fehlerdetektionsrate

 

Gelb-Filter und Grün-Filter für perfekte optische visuelle Inspektion

  • robustes Gelblicht-Lampengehäuse für Dauerbetrieb bei der Wafer-Inspektion
  • einfach austauschbare Filterscheibe bei der Waferlampe
  • UV-Waferlampe optional mit aktiver Lüfterkühlung für besonders hohe Lebensdauer

 

Wafer Produktion mit händischer Wafer Inspektion verbessern

  • Gelblichtlampe für Waferprüfung: emittiert in einem optimierten Wellenlängenbereich, einschließlich der Wellenlänge von 546, 577 und 579 nm, die typischerweise von Inspektionslampen auf der Basis von Quecksilberdampfentladungsbirnen als Spitzenwellenlänge emittiert wird
  • gelb besser als grün (525 nm) für kontrastreiche Detektion
  • kein Flackern beim Wafer Test
  • dimmbare Gelblichtlampe, mit der die Intensität für alle Arten von Inspektionen und Fehlerarten auf das beste Niveau eingestellt werden kann
  • Inspektionslampe für Halbleiterwafer
  • LED-basierter Ersatz für gängige Gelblichtlampen

 

Welche Waferarten können mit der Gelblichtlampe von SECU-CHEK geprüft werden?

  • Wafer-Inspektion bei der Halbleiter- und Chipherstellung
  • Wafer-Prüfung für die Solar-Industrie und Photovoltaik
  • visuelle Wafer Oberflächenprüfung für alle Wafergrößen: 25mm (1-inch), 38mm (1,5-inch), 51mm (2-inch), 75mm (3-inch), 100mm (4-inch), 125mm (5-inch), 150mm (6-inch), 200mm (8-inch), 300mm (12-inch), 450mm (18-inch)
  • Inspektion von epitaxierten Wafern
  • optische Prüfung von monokristallinen Wafern und auch polykristallinen Wafern
  • visueller Test der Oberfläche von Silizium Wafern
  • Check auch möglich für quadratische Wafer
  • Prüfung von Rohwafern und strukturierten Wafern
  • Analyse der Oberfläche von Epitaxie-Wafern (EPI-Wafer) und SOI-Wafern
  • Gold-Wafer testen mit der Gelblichtlampe
  • Visuelle Inspektion mit der UV-Lampe für kristalline Silikon Wafer
  • Optische Oberflächeninspektion für Wafer aus allen Materialien: Silicium, Germanium, Sliciumcarbid, Galliumarsenid, Saphir, Glas usw.
  • Sichtkontrolle für SEMI-Standardwafer
  • Qualitätscheck von gebondeten Wafern, Wafern auf Tape
  • visuelle Waferinspektion auch für blanke, gedünnte und Fan-Out-Wafer
  • Optische Qualitätskontrolle und Inspektion von stark gewölbten Wafern (eLWB etc.)
  • uvm.
Waferinspektion, Halbleiterkontrolle, Partikelsuche (Particle-Inspection) mit Gelblichtlampen und UV-LED Lampen von SECU-CHEK

Partikelsuche sowie Qualitätskontrolle zur Reduzierung von Verschmutzungen bei der Waferproduktion / Halbleiterproduktion

Neben der visuellen Oberflächenprüfung bei der Waferinspektion, bei der mittels einer Gelblichtlampe oder Grünlichtlampe, teilweise automatisiert, die Waferinspektion durchgeführt wird, haben viele Halbleiter-Hersteller noch weitere Anforderungen:

  • Nach Partikelverschmutzungen in den Anlagen schauen mit Prüflampen
  • Partikelsuche mit Gelblichtlampen oder mit UV-LED Lampen
  • Partikel erkennen zur Qualitätskontrolle im Reinraum bei der Waferproduktion
  • Partikel suchen und finden zur Reinigung der Maschinen bei der Halbleiterproduktion
  • Produktionsequipment reinigen und reinhalten im Zuge der kontinuierlichen Qualitätskontrolle

Verschmutzungen an Produktionsanlagen sind ein kritischer Faktor für eine reibungslose Produktion und damit den Geschäftserfolg. In den meisten Fällen kann man diese nur mit einer manuellen Inspektion und damit mit mobilen Gelblichtlampen, Grünlichtlampen oder UV-LED Lampen durchführen.

Lassen Sie sich von uns beraten, wie Sie eine optimale Qualitätskontrolle nahtlos und effektiv in Ihre bestehenden Prozesse bei der Waferproduktion integrieren können mit der führenden Wafer-Inspektions-Technologie von SECU-CHEK.

Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!

Gerne können Sie uns auch telefonisch oder per Email kontaktieren.

    Direktkontakt:

    SECU-CHEK GmbH
    An der Fähre 9
    66271 Kleinblittersdorf

    Tel. +49 6805-942859-0
    Fax +49 6805-942859-95

    Email: info@secu-chek.de

    Google Maps

    Mit dem Laden der Karte akzeptieren Sie die Datenschutzerklärung von Google.
    Mehr erfahren

    Karte laden

    Wafer Herstellung - Wissen und Infos

    Was ist ein Wafer?

    • Wafer steht für “dünner Keks” oder “dünne Scheibe”
    • ein Wafer ist meistens kreisrund, teilweise aber auch quadratisch
    • die Herstellung von Wafern erfolgt aus sogenannten Ingots
    • Wafer sind normalerweise eine Grundplatte für elektronische Bauteile und -elemente

    Verwendung von Wafern

    • Chipherstellung (integrierte Schaltkreise)
    • Mikroelektronik
    • Photovoltaik (Solarzellen)
    • Mikrosystemtechnik

    Weitere interessante Infos zur Wafer-Herstellung und Inspektion

    Aufbau eines Wafers

    • Material: meistens Silizium, teilweise auch Siliciumcarbid, Galliumarsenid und Indiumphosphid
    • teilweise auch Glas- oder Gold-Wafer
    • Größe: 1 Zoll-Wafer bis 18-Zoll Wafer, wobei 18-Zoll-Wafer noch nicht für die Massenproduktion möglich sind
    • es gibt verschiedene Verfahren zur Herstellung der Ingots, z.B. das Czochralski-Verfahren u.w.

    Wafer in der Photovoltaik

    • Unterscheidung von polykristallinen (Multikristallinen) und monokristallinen Wafern
    • Wafer werden durch Zersägen der Ingots hergestellt
    • quaderförmige Silicium-Blöcke meist für die Solarzellenproduktion
    • runde, monokristalline Wafer aus zylinderförmigen Ingots meist für Chipherstellung und Mikroelektronik

    Weitere Infos zum Thema Wafer-Herstellung, Wafer-Prüfung etc. finden sie hier: Wikipedia